淺談絕緣電阻測試儀使用過程中有哪些常見問題呢
絕緣電阻測試儀是一種常用的絕緣電阻測量儀表,即方便又可靠,被廣泛的應用于多個行業當中。我們把絕緣電阻測試儀使用中常見問題一一列出,希望對廣大使用者能提供幫助。
1. 在測容性負載阻值時,絕緣電阻測試儀輸出短路電流大小與測量數據有什么關系,為什么?
絕緣電阻測試儀輸出短路電流的大小可反映出該兆歐表內部輸出高壓源內阻的大小。當被測試品存在電容量時,在測試過程的開始階段,表內的高壓源要通過其內阻向該電容充電,并逐步將電壓充到兆歐表的輸出額定高壓值。顯然,如果試品的電容量值很大,或高壓源內阻很大,這一充電過程的耗時就會加長。其長度可由R內和C負載的乘積決定(單位為秒)。請注意,給電容充電的電流與被測試品絕緣電阻上流過的電流,在測試中是一起流入表內的。絕緣電阻測試儀測得的電流不僅有絕緣電阻上的分量,也加入了電容充電電流分量,這時測得的阻值將偏小。如:額定電壓為5000V的絕緣電阻測試儀,若其短路輸出電流為80μA,其內阻為5000V/80μA=62MΩ如:試品容量為0.15μF,則時間常數τ=62MΩ×0.15μF≈9 (秒)即在18秒時刻,電容上的充電電流仍有11.3μA。由此可見,僅由充電電流而形成的等效電阻為5000V/11.3μA=442MΩ,若正常絕緣為1000MΩ,則顯示的測得絕緣值僅為306MΩ。這種試值已不能反映絕緣值的真實狀況了,而且試值主要是隨容性負載容量的變化而改變,即容量小,測試阻值大;容量大,測試阻值小。所以,為保障準確測得R15s,R60s的試值,應選用充電速度快的大容量兆歐表。我國的相關規程要求兆歐表輸出短路電流應大于0.5mA、1mA、2mA、5mA,要求高的場合應盡量選擇輸出短路電流較大的絕緣電阻測試儀。
2. 為什么測絕緣時,不但要求測單純的阻值,而且還要求測吸收比,極化指數,有什么意義?
在絕緣測試中,某一個時刻的絕緣電阻值是不能全面反映試品絕緣性能的優劣的,這是由于以下兩方面原因,一方面,同樣性能的絕緣材料,體積大時呈現的絕緣電阻小,體積小時呈現的絕緣電阻大。 另一方面,絕緣材料在加上高壓后均存在對電荷的吸收比過程和極化過程。 所以,電力系統要求在主變壓器、電纜、電機等許多場合的絕緣測試中應測量吸收比-即R60s和R15s的比值,和極化指數-即R10min和R1min 比值,并以此數據來判定絕緣狀況的優劣。
3. 在高壓高阻的測試環境中,為什么要求儀表接G端連線?
在被測試品兩端加上較高的額定電壓,且絕緣阻值較高時,被測試品表面受潮濕,污染引起的泄漏較大,示值誤差就大,而儀表G端是將被測試品表面泄漏的電流旁路,使泄漏電流不經過儀表的測試回路,消除泄漏電流引起的誤差。
4.在校測某些型號絕緣儀表L、E兩端額定輸出直流高壓時,用指針式萬用表DCV檔測L、E兩端電壓,為什么電壓會跌落很多,而數字式萬用表則不會?
用普通的指針式萬用表直接在絕緣電阻測試儀L、E兩端測量其輸出的額定直流電壓,測量結果與標稱的額定電壓值要小很多(超出誤差范圍),而用數字萬用表則不會。這是因為指針式萬用表內阻較小,而數字萬用表內阻相對較大。指針式萬用表內阻較小,絕緣電阻測試儀L-E端輸出電壓降低很多,不是正常工作時的輸出電壓。但是,用萬用表直接去測絕緣電阻測試儀的輸出電壓是錯誤的,應當用內阻阻抗較大的靜電高壓表或用分壓器等負載電阻足夠大的方式去測量。
5.能不能用絕緣電阻測試儀直接測帶電的被測試品,結果有什么影響,為什么?
為了人身安全和正常測試,原則上是不允許測量帶電的被測試品,若要測量帶電被測試品,不會對儀表造成損壞(短時間內),但測試結果是不準確的,因為帶電后,被測試品便與其它試品連結在一起,所以得出的結果不能真實的反映實際數據,而是與其它試品一起的并聯或串聯阻值。
6.為什么數字絕緣電阻測試儀幾節電池供電能產生較高的直流高壓?
這是根據直流變換原理,經過升壓電路處理使較低的供電電壓提升到較高的輸出直流電壓,產生的高壓雖然較高但輸出功率較小。(如電***幾節電池能產生幾萬伏的高壓)
7.用絕緣電阻測試儀測量絕緣電阻時,有哪些因素會造成測量數據不準確,為什么?
A)電池電壓不足。電池電壓欠壓過低,造成電路不能正常工作,所以測出的讀數是不準確的。
B)測試線接法不正確。誤將L、G、E三端接線接錯,或將G、L連線G、E連線接在被測試品兩端。
C)G端連線未接。被測試品由于受污染潮濕等因素造成電流泄漏引起的誤差,造成測試不準確,此時必須接好G端連線防止泄漏電流引起誤差。
D)干擾過大。如果被測試品受環境電磁干擾過大,造成儀表讀數跳動。或指針晃動。造成讀數不準確。
E)人為讀數錯誤。在用指針式絕緣電阻測試儀測量時,由于人為視角誤差或標度尺誤差造成示值不準確。
F)儀表誤差。儀表本身誤差過大,需要重新校對。
8.高阻絕緣表現場測容性負載時(如主變),指針顯示阻值在某一區間突然跌落(不是正常測試時的zui大值區間內的緩慢小幅擺動),快速來回擺動,是什么原因?
造成該現象主要是試驗系統內某部位出現放電打火。 絕緣表向容性被測試品充電中,當容性試品被充至一定電壓時,如果儀表內部測試線或被測試品中任一部位有擊穿放電打火,就會出現上述現象。 判別辦法:
(1)儀表測試座不接入測試線,開啟電源和高壓,看儀表內是否有打火現象發生(若有打火可聽到放電打火聲)。
(2)接上L、G、E測試線,不接被測試品,L測試線末端線夾懸空,開啟高壓,看測試導線是否有打火現象發生。若有打火現象,則檢查:a)L、G測試線芯線(L端)與裸露在外的線(G端)是否過近,產生拉弧打火。b)L端芯線插頭與測試座屏蔽環或測試夾子與被測試品接觸不良造成打火。c)測試線與插頭、夾子之間虛焊斷路,造成間隙放電。
(3)接入被測試品,檢查末端線夾與試品接觸點附近有無放電打火。
(4)排除以上原因,接好被測試品,開啟高壓,若儀表仍有上述現象則說明被測試品絕緣擊穿造成局部放電或拉弧。
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